La difracción de rayos X es una técnica crucial en la identificación de estructuras cristalinas. Esta técnica se basa en el principio de que los rayos X se difractan al pasar a través de un cristal, lo que produce un patrón de difracción característico que puede ser utilizado para determinar la disposición atómica en el cristal. La difracción de rayos X es ampliamente utilizada en la industria farmacéutica, química, de materiales y en la investigación científica para identificar la estructura de compuestos cristalinos, lo que es fundamental para comprender sus propiedades y comportamiento.
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